X-Strata920 je kompakten, robusten in zanesljiv namizni XRF sistem za meritve debeline galvanskih plasti in analize materialov.
Omogoča hitro in zelo zanesljivo analizo debeline plasti in karakterizacije večplastnih vzorcev v širokem spektru industrijskih panog od elektronike, obdelave kovin, litja do aplikacij povezanih z žlahtnimi kovinamu.
