Our products
Domov
Prodajni program
Kemijska in fizikalna analiza
Priprava vzorcev
Mikrovalovni razklop
Ekstrakcija s topili/SPE
Analiza elementov
Atomska absorbcijska spektroskopija – AAS
Atomska emisijska spektroskopija – ICP in MP izvor
XRF
Merilniki debeline kovinskih plasti
Namizni XRF instrumenti
Ročni XRF merilniki
LIBS
Analiza molekul in optičnih lastnosti snovi
UV-VIS-NIR spektrofotometrija
Fluorescenčna spektroskopija
IR spektroskopija
Raman spektroskopija
pH in elektrokemijski merilniki
Namizni in prenosni merilniki pH, prevodnosti in koncentracije ionov
Merjenje fizikalnih lastnosti
Analiza velikosti delcev
Statično in dinamično sipanje svetlobe (laserska difrakcija)
Statična in dinamična analiza slike
Analiza površine
Spektroskopska elipsometrija
Tehtnice in laboratorijski aparati
Tehtnice
Kratek opis tehtnic
semi-mikro tehtnice
Analitične tehtnice
Precizne tehtnice
Industrijske tehtnice
Določanje proteinov
Laboratorijski generatorji plinov
Vakuum in meritve netesnosti
Testiranje raztapljanja farmacevtskih izdelkov
Okoljska analitika
Industrijska in procesna analiza
Referenčni materiali, kalibracijski standardi in validacijske storitve
Partnerji
Servisne storitve
Svetovanje in prodaja
Podjetje
Aktualno
Domov
Prodajni program
Kemijska in fizikalna analiza
Priprava vzorcev
Mikrovalovni razklop
Ekstrakcija s topili/SPE
Analiza elementov
Atomska absorbcijska spektroskopija – AAS
Atomska emisijska spektroskopija – ICP in MP izvor
XRF
Merilniki debeline kovinskih plasti
Namizni XRF instrumenti
Ročni XRF merilniki
LIBS
Analiza molekul in optičnih lastnosti snovi
UV-VIS-NIR spektrofotometrija
Fluorescenčna spektroskopija
IR spektroskopija
Raman spektroskopija
pH in elektrokemijski merilniki
Namizni in prenosni merilniki pH, prevodnosti in koncentracije ionov
Merjenje fizikalnih lastnosti
Analiza velikosti delcev
Statično in dinamično sipanje svetlobe (laserska difrakcija)
Statična in dinamična analiza slike
Analiza površine
Spektroskopska elipsometrija
Tehtnice in laboratorijski aparati
Tehtnice
Kratek opis tehtnic
semi-mikro tehtnice
Analitične tehtnice
Precizne tehtnice
Industrijske tehtnice
Določanje proteinov
Laboratorijski generatorji plinov
Vakuum in meritve netesnosti
Testiranje raztapljanja farmacevtskih izdelkov
Okoljska analitika
Industrijska in procesna analiza
Referenčni materiali, kalibracijski standardi in validacijske storitve
Partnerji
Servisne storitve
Svetovanje in prodaja
Podjetje
Aktualno
Industrijska in procesna analiza
Prodajni program
/ Industrijska in procesna analiza
LIBS
Merilniki debeline kovinskih plasti
XRF
Free
Hitachi High Technology FT110A
Free
Hitachi High Technology FT150
Free
Hitachi High Technology MAXXI 6
Free
Hitachi High Technology Vulcan Expert
Free
Hitachi High Technology Vulcan Smart
Free
Hitachi High Technology X-MET8000 Expert
Free
Hitachi High Technology X-MET8000 GEO
Free
Hitachi High Technology X-MET8000 Optimum
Free
Hitachi High Technology X-MET8000 Smart
Free
Hitachi High Technology X-MET8000CG
Free
Hitachi High Technology X-Strata 920
Free
Hitachi High Technology X-Supreme 8000
Free
Horiba Mesa-50 XRF
