Our products
Domov
Prodajni program
Kemijska in fizikalna analitika
Priprava vzorcev
Mikrovalovni razklop
Ekstrakcija s topili/SPE
Analitika elementov
Atomska absorbcijska spektroskopija – AAS
Atomska emisijska spektroskopija – ICP in MP izvor
XRF
Merilniki debeline kovinskih plasti
Namizni XRF instrumenti
Ročni XRF merilniki
LIBS
Analiza molekul in optičnih lastnosti snovi
UV-VIS-NIR spektrofotometrija
Fluorescenčna spektroskopija
IR spektroskopija
Raman spektroskopija
pH in elektrokemijski merilniki
Namizni in prenosni merilniki pH, prevodnosti in koncentracije ionov
Merjenje fizikalnih lastnosti
Analiza velikosti delcev
Statično in dinamično sipanje svetlobe (laserska difrakcija)
Statična in dinamična analiza slike
Analiza površine
Spektroskopska elipsometrija
Testiranje raztapljanja farmacevtskih izdelkov
Aparature
Avtomatski vzorčevalniki
Pribor in potrošni material
Tehtnice, generatorji plinov, določanje proteinov
Tehtnice
Kratek opis tehtnic
Semi-mikro tehtnice
Analitične tehtnice
Precizne tehtnice
Industrijske tehtnice
Določanje proteinov
Laboratorijski generatorji plinov
Okoljska analitika
Kontrola zraka in plinov
Industrijska in procesna analitika
LIBS
Merilniki debeline kovinskih plasti
XRF
Merilniki debeline kovinskih plasti
Namizni XRF instrumenti
Ročni XRF merilniki
Vakuum in meritve netesnosti
Primarne / Črpalke za srednji vakuum
Rotacijske črpalke
RPS Rootovi črpalni sistemi
Suhe spiralne črpalke
Programska oprema
Vakuumske črpalke za masne spektrometre
Mikroskopija
Mikro- in nano-Raman mikroskopija
Tipalni mikroskopi
Referenčni materiali, kalibracijski standardi in validacijske storitve
Partnerji
Servisne storitve
Svetovanje in prodaja
Podjetje
Aktualno
Domov
Prodajni program
Kemijska in fizikalna analitika
Priprava vzorcev
Mikrovalovni razklop
Ekstrakcija s topili/SPE
Analitika elementov
Atomska absorbcijska spektroskopija – AAS
Atomska emisijska spektroskopija – ICP in MP izvor
XRF
Merilniki debeline kovinskih plasti
Namizni XRF instrumenti
Ročni XRF merilniki
LIBS
Analiza molekul in optičnih lastnosti snovi
UV-VIS-NIR spektrofotometrija
Fluorescenčna spektroskopija
IR spektroskopija
Raman spektroskopija
pH in elektrokemijski merilniki
Namizni in prenosni merilniki pH, prevodnosti in koncentracije ionov
Merjenje fizikalnih lastnosti
Analiza velikosti delcev
Statično in dinamično sipanje svetlobe (laserska difrakcija)
Statična in dinamična analiza slike
Analiza površine
Spektroskopska elipsometrija
Testiranje raztapljanja farmacevtskih izdelkov
Aparature
Avtomatski vzorčevalniki
Pribor in potrošni material
Tehtnice, generatorji plinov, določanje proteinov
Tehtnice
Kratek opis tehtnic
Semi-mikro tehtnice
Analitične tehtnice
Precizne tehtnice
Industrijske tehtnice
Določanje proteinov
Laboratorijski generatorji plinov
Okoljska analitika
Kontrola zraka in plinov
Industrijska in procesna analitika
LIBS
Merilniki debeline kovinskih plasti
XRF
Merilniki debeline kovinskih plasti
Namizni XRF instrumenti
Ročni XRF merilniki
Vakuum in meritve netesnosti
Primarne / Črpalke za srednji vakuum
Rotacijske črpalke
RPS Rootovi črpalni sistemi
Suhe spiralne črpalke
Programska oprema
Vakuumske črpalke za masne spektrometre
Mikroskopija
Mikro- in nano-Raman mikroskopija
Tipalni mikroskopi
Referenčni materiali, kalibracijski standardi in validacijske storitve
Partnerji
Servisne storitve
Svetovanje in prodaja
Podjetje
Aktualno
Analiza molekul in optičnih lastnosti snovi
Prodajni program
/
Kemijska in fizikalna analitika
/ Analiza molekul in optičnih lastnosti snovi
Fluorescenčna spektroskopija
IR spektroskopija
Raman spektroskopija
UV-VIS-NIR spektrofotometrija
Free
Agilent 8454
Agilent 8454 diode array UV-Vis spektrofotometer
Free
Agilent Cary 3500
Free
Agilent Cary Eclipse
Free
Cary 100
Cary 100 UV-Vis spektrofotometer
Free
Cary 300
Cary 300 UV-Vis spektrofotometer
Free
Cary 4000 UV-Vis
Free
Cary 5000 UV-Vis-NIR
Free
CARY 60 UV-Vis
Free
Cary 6000i UV-Vis-NIR
Free
Cary 630 FTIR
Free
Cary 7000 UMS
Free
Horiba AquaLog
Free
Horiba Dual-FL
Free
Horiba FluoroLog® – modularni spektrofluorometer
Free
Horiba FluoroMax
Free
Horiba LabRAM HR Evolution
Free
Horiba NanoLog® – modularni spektrofluorometer
Free
Horiba XploRA™PLUS
Free
Modularni Raman
Free
Transmisijski Raman
