Merel d.o.o.Merel d.o.o.
Our products
  • Domov
  • Prodajni program
    • Kemijska in fizikalna analitika
      • Priprava vzorcev
        • Mikrovalovni razklop
        • Ekstrakcija s topili/SPE
      • Analitika elementov
        • Atomska absorbcijska spektroskopija – AAS
        • Atomska emisijska spektroskopija – ICP in MP izvor
        • XRF
          • Merilniki debeline kovinskih plasti
          • Namizni XRF instrumenti
          • Ročni XRF merilniki
        • LIBS
      • Analiza molekul in optičnih lastnosti snovi
        • UV-VIS-NIR spektrofotometrija
        • Fluorescenčna spektroskopija
        • IR spektroskopija
        • Raman spektroskopija
      • pH in elektrokemijski merilniki
        • Namizni in prenosni merilniki pH, prevodnosti in koncentracije ionov
    • Merjenje fizikalnih lastnosti
      • Analiza velikosti delcev
        • Statično in dinamično sipanje svetlobe (laserska difrakcija)
        • Statična in dinamična analiza slike
      • Analiza površine
        • Spektroskopska elipsometrija
    • Testiranje raztapljanja farmacevtskih izdelkov
      • Aparature
      • Avtomatski vzorčevalniki
      • Pribor in potrošni material
    • Tehtnice, generatorji plinov, določanje proteinov
      • TehtniceKratek opis tehtnic
        • Semi-mikro tehtnice
        • Analitične tehtnice
        • Precizne tehtnice
        • Industrijske tehtnice
      • Določanje proteinov
      • Laboratorijski generatorji plinov
    • Okoljska analitika
      • Kontrola zraka in plinov
    • Industrijska in procesna analitika
      • LIBS
      • Merilniki debeline kovinskih plasti
      • XRF
        • Merilniki debeline kovinskih plasti
        • Namizni XRF instrumenti
        • Ročni XRF merilniki
    • Vakuum in meritve netesnosti
      • Primarne / Črpalke za srednji vakuum
        • Rotacijske črpalke
        • RPS Rootovi črpalni sistemi
        • Suhe spiralne črpalke
      • Programska oprema
      • Vakuumske črpalke za masne spektrometre
    • Mikroskopija
      • Mikro- in nano-Raman mikroskopija
      • Tipalni mikroskopi
      • X-žarkovna fluorescenčna mikroskopija
    • Referenčni materiali, kalibracijski standardi in validacijske storitve
  • Partnerji
  • Servisne storitve
  • Svetovanje in prodaja
  • Podjetje
  • Aktualno
  • Domov
  • Prodajni program
    • Kemijska in fizikalna analitika
      • Priprava vzorcev
        • Mikrovalovni razklop
        • Ekstrakcija s topili/SPE
      • Analitika elementov
        • Atomska absorbcijska spektroskopija – AAS
        • Atomska emisijska spektroskopija – ICP in MP izvor
        • XRF
          • Merilniki debeline kovinskih plasti
          • Namizni XRF instrumenti
          • Ročni XRF merilniki
        • LIBS
      • Analiza molekul in optičnih lastnosti snovi
        • UV-VIS-NIR spektrofotometrija
        • Fluorescenčna spektroskopija
        • IR spektroskopija
        • Raman spektroskopija
      • pH in elektrokemijski merilniki
        • Namizni in prenosni merilniki pH, prevodnosti in koncentracije ionov
    • Merjenje fizikalnih lastnosti
      • Analiza velikosti delcev
        • Statično in dinamično sipanje svetlobe (laserska difrakcija)
        • Statična in dinamična analiza slike
      • Analiza površine
        • Spektroskopska elipsometrija
    • Testiranje raztapljanja farmacevtskih izdelkov
      • Aparature
      • Avtomatski vzorčevalniki
      • Pribor in potrošni material
    • Tehtnice, generatorji plinov, določanje proteinov
      • TehtniceKratek opis tehtnic
        • Semi-mikro tehtnice
        • Analitične tehtnice
        • Precizne tehtnice
        • Industrijske tehtnice
      • Določanje proteinov
      • Laboratorijski generatorji plinov
    • Okoljska analitika
      • Kontrola zraka in plinov
    • Industrijska in procesna analitika
      • LIBS
      • Merilniki debeline kovinskih plasti
      • XRF
        • Merilniki debeline kovinskih plasti
        • Namizni XRF instrumenti
        • Ročni XRF merilniki
    • Vakuum in meritve netesnosti
      • Primarne / Črpalke za srednji vakuum
        • Rotacijske črpalke
        • RPS Rootovi črpalni sistemi
        • Suhe spiralne črpalke
      • Programska oprema
      • Vakuumske črpalke za masne spektrometre
    • Mikroskopija
      • Mikro- in nano-Raman mikroskopija
      • Tipalni mikroskopi
      • X-žarkovna fluorescenčna mikroskopija
    • Referenčni materiali, kalibracijski standardi in validacijske storitve
  • Partnerji
  • Servisne storitve
  • Svetovanje in prodaja
  • Podjetje
  • Aktualno

Aparature

Prodajni program / Testiranje raztapljanja farmacevtskih izdelkov / Aparature

  • Free

    Agilent 708-DS

  • Free

    Dissolution Workstation programska oprema

  • Free

    Agilent 400-DS

  • Free

    Agilent BIO-DIS III

Pišite nam





Osnovni podatki

Merel d.o.o.
Ob gozdu 25, 2352 Selnica ob Dravi

Poslovna enota Maribor
Limbuška 42, 2000 Maribor

Tel.: +386 2 229 73 90
Fax.: +386 2 229 73 91


E-mail: info@merel.si


©2021 Merel d.o.o. · Avtorji Kart | we create

Spletna stran merel.si uporablja piškotke googlove analitike. Strinjam se z uporabo zgoraj navedenih piškotkov.Ok