Our products
Domov
Prodajni program
Analiza mikroplastike
Kemijska in fizikalna analiza
Priprava vzorcev
Ekstrakcija / SPE
Mikrovalovni razklop
Določanje pepela, sušenje
VOC koncentratorji (P&T)
Elementna analiza
Atomska absorbcijska spektroskopija – AAS
Atomska emisijska spektroskopija – ICP in MP izvor
CS in NOH
LIBS
Optična emisijska spektroskopija – izvor z iskro
XRF
Merilniki debeline kovinskih plasti
Namizni XRF instrumenti
Ročni XRF merilniki
Analiza molekul in optičnih lastnosti snovi
Fluorescenčna spektroskopija
IR spektroskopija
Raman spektroskopija
UV-VIS-NIR spektrofotometrija
pH in elektrokemijski merilniki
Merilniki gostote in refraktometri
Namizni in prenosni merilniki pH, prevodnosti in koncentracije ionov
Merjenje fizikalnih lastnosti
Analiza velikosti delcev
Statično in dinamično sipanje svetlobe (laserska difrakcija)
Statična in dinamična analiza slike
Analiza površine
GD spektroskopija
Spektroskopska elipsometrija
Testiranje raztapljanja (Dissolution)
Aparature
Vzorčevalniki
Avtomatski sistemi
Testiranje razpadnosti
Pribor in potrošni material
Določanje vlage, maščob, beljakovin
Določanje beljakovin
Določanje maščob
Določanje vlage / suhe snovi
Tehtnice, generatorji plinov
Tehtnice
Kratek opis tehtnic
Semi-mikro tehtnice
Analitične tehtnice
Industrijske tehtnice
Precizne tehtnice
Laboratorijski generatorji plinov
Generatorji dušika UHP
Generatorji ničelnega zraka
Generatorji vodika
Meritve emisij in zraka
Meritve črnega ogljika
Meritve skupnih ogljikovodikov (THC)
BTEX/VOC analiza, analiza žvepla, vonjav
Vzorčenje zraka
Vzorčenje emisij
Emisijski vzorčevalniki
(ST5, ST5 EVO, sonde za vzorčenje, hladilne naprave in pribor, pripomočki)
Sonde in pribor
Hladilna / kondenzacijska oprema
Potrošni material
Industrijska in procesna analiza
OES
LIBS
Merilniki debeline kovinskih plasti
XRF
Merilniki debeline kovinskih plasti
Namizni XRF instrumenti
Ročni XRF merilniki
Vakuum in meritve netesnosti
Črpalke za visok vakuum
Difuzijske črpalke
Ionske črpalke
Kontrolerji za turbo črpalke
Turbo črpalke
Turbo črpalni sistemi
Kompente za vakuumske sisteme
Vakumske prirobnice in fitingi
Vakumski ventili
Merjenje vakuuma
Aktivna tipala
Krmilniki tipal
Pretvorniki
Primarne / Črpalke za srednji vakuum
Laboratorijske vakumske črpalke
Rotacijske črpalke
RPS Rootovi črpalni sistemi
Suhe spiralne črpalke
Programska oprema
Vakuumske črpalke za masne spektrometre
Zaznavanje netesnosti
Component leak detector
Helijev masni spektrometer (HLD)
Prenosne naprave
Bioznanost
Mikrovalovna sinteza
Sinteza peptidov
Proteomika
ISH / IHC avtomatizacija
Mikroskopija
X-žarkovna fluorescenčna mikroskopija
IR mikroskopija
Mikro- in nano-Raman mikroskopija
Tipalni mikroskopi
Referenčni materiali, standardi
Kalibracijski standardi
Referenčni materiali za optično spektroskopijo
Uteži
Validacijske storitve
XRF standardi
Partnerji
Servisne storitve
Svetovanje in prodaja
Podjetje
Aktualno
Domov
Prodajni program
Analiza mikroplastike
Kemijska in fizikalna analiza
Priprava vzorcev
Ekstrakcija / SPE
Mikrovalovni razklop
Določanje pepela, sušenje
VOC koncentratorji (P&T)
Elementna analiza
Atomska absorbcijska spektroskopija – AAS
Atomska emisijska spektroskopija – ICP in MP izvor
CS in NOH
LIBS
Optična emisijska spektroskopija – izvor z iskro
XRF
Merilniki debeline kovinskih plasti
Namizni XRF instrumenti
Ročni XRF merilniki
Analiza molekul in optičnih lastnosti snovi
Fluorescenčna spektroskopija
IR spektroskopija
Raman spektroskopija
UV-VIS-NIR spektrofotometrija
pH in elektrokemijski merilniki
Merilniki gostote in refraktometri
Namizni in prenosni merilniki pH, prevodnosti in koncentracije ionov
Merjenje fizikalnih lastnosti
Analiza velikosti delcev
Statično in dinamično sipanje svetlobe (laserska difrakcija)
Statična in dinamična analiza slike
Analiza površine
GD spektroskopija
Spektroskopska elipsometrija
Testiranje raztapljanja (Dissolution)
Aparature
Vzorčevalniki
Avtomatski sistemi
Testiranje razpadnosti
Pribor in potrošni material
Določanje vlage, maščob, beljakovin
Določanje beljakovin
Določanje maščob
Določanje vlage / suhe snovi
Tehtnice, generatorji plinov
Tehtnice
Kratek opis tehtnic
Semi-mikro tehtnice
Analitične tehtnice
Industrijske tehtnice
Precizne tehtnice
Laboratorijski generatorji plinov
Generatorji dušika UHP
Generatorji ničelnega zraka
Generatorji vodika
Meritve emisij in zraka
Meritve črnega ogljika
Meritve skupnih ogljikovodikov (THC)
BTEX/VOC analiza, analiza žvepla, vonjav
Vzorčenje zraka
Vzorčenje emisij
Emisijski vzorčevalniki
(ST5, ST5 EVO, sonde za vzorčenje, hladilne naprave in pribor, pripomočki)
Sonde in pribor
Hladilna / kondenzacijska oprema
Potrošni material
Industrijska in procesna analiza
OES
LIBS
Merilniki debeline kovinskih plasti
XRF
Merilniki debeline kovinskih plasti
Namizni XRF instrumenti
Ročni XRF merilniki
Vakuum in meritve netesnosti
Črpalke za visok vakuum
Difuzijske črpalke
Ionske črpalke
Kontrolerji za turbo črpalke
Turbo črpalke
Turbo črpalni sistemi
Kompente za vakuumske sisteme
Vakumske prirobnice in fitingi
Vakumski ventili
Merjenje vakuuma
Aktivna tipala
Krmilniki tipal
Pretvorniki
Primarne / Črpalke za srednji vakuum
Laboratorijske vakumske črpalke
Rotacijske črpalke
RPS Rootovi črpalni sistemi
Suhe spiralne črpalke
Programska oprema
Vakuumske črpalke za masne spektrometre
Zaznavanje netesnosti
Component leak detector
Helijev masni spektrometer (HLD)
Prenosne naprave
Bioznanost
Mikrovalovna sinteza
Sinteza peptidov
Proteomika
ISH / IHC avtomatizacija
Mikroskopija
X-žarkovna fluorescenčna mikroskopija
IR mikroskopija
Mikro- in nano-Raman mikroskopija
Tipalni mikroskopi
Referenčni materiali, standardi
Kalibracijski standardi
Referenčni materiali za optično spektroskopijo
Uteži
Validacijske storitve
XRF standardi
Partnerji
Servisne storitve
Svetovanje in prodaja
Podjetje
Aktualno
Primarne / Črpalke za srednji vakuum
Prodajni program
/
Vakuum in meritve netesnosti
/ Primarne / Črpalke za srednji vakuum
Laboratorijske vakumske črpalke
Rotacijske črpalke
RPS Rootovi črpalni sistemi
Suhe spiralne črpalke
Spletna stran merel.si uporablja piškotke googlove analitike. Strinjam se z uporabo zgoraj navedenih piškotkov.
Ok
