Our products
Domov
Prodajni program
Kemijska in fizikalna analitika
Priprava vzorcev
Mikrovalovni razklop
Ekstrakcija s topili/SPE
Analitika elementov
Atomska absorbcijska spektroskopija – AAS
Atomska emisijska spektroskopija – ICP in MP izvor
XRF
Merilniki debeline kovinskih plasti
Namizni XRF instrumenti
Ročni XRF merilniki
LIBS
Analiza molekul in optičnih lastnosti snovi
UV-VIS-NIR spektrofotometrija
Fluorescenčna spektroskopija
IR spektroskopija
Raman spektroskopija
pH in elektrokemijski merilniki
Namizni in prenosni merilniki pH, prevodnosti in koncentracije ionov
Merjenje fizikalnih lastnosti
Analiza velikosti delcev
Statično in dinamično sipanje svetlobe (laserska difrakcija)
Statična in dinamična analiza slike
Analiza površine
Spektroskopska elipsometrija
Testiranje raztapljanja farmacevtskih izdelkov
Aparature
Avtomatski vzorčevalniki
Pribor in potrošni material
Tehtnice, generatorji plinov, določanje proteinov
Tehtnice
Kratek opis tehtnic
Semi-mikro tehtnice
Analitične tehtnice
Precizne tehtnice
Industrijske tehtnice
Določanje proteinov
Laboratorijski generatorji plinov
Okoljska analitika
Kontrola zraka in plinov
Industrijska in procesna analitika
LIBS
Merilniki debeline kovinskih plasti
XRF
Merilniki debeline kovinskih plasti
Namizni XRF instrumenti
Ročni XRF merilniki
Vakuum in meritve netesnosti
Primarne / Črpalke za srednji vakuum
Rotacijske črpalke
RPS Rootovi črpalni sistemi
Suhe spiralne črpalke
Programska oprema
Vakuumske črpalke za masne spektrometre
Mikroskopija
Mikro- in nano-Raman mikroskopija
Tipalni mikroskopi
X-žarkovna fluorescenčna mikroskopija
Referenčni materiali, kalibracijski standardi in validacijske storitve
Partnerji
Servisne storitve
Svetovanje in prodaja
Podjetje
Aktualno
Domov
Prodajni program
Kemijska in fizikalna analitika
Priprava vzorcev
Mikrovalovni razklop
Ekstrakcija s topili/SPE
Analitika elementov
Atomska absorbcijska spektroskopija – AAS
Atomska emisijska spektroskopija – ICP in MP izvor
XRF
Merilniki debeline kovinskih plasti
Namizni XRF instrumenti
Ročni XRF merilniki
LIBS
Analiza molekul in optičnih lastnosti snovi
UV-VIS-NIR spektrofotometrija
Fluorescenčna spektroskopija
IR spektroskopija
Raman spektroskopija
pH in elektrokemijski merilniki
Namizni in prenosni merilniki pH, prevodnosti in koncentracije ionov
Merjenje fizikalnih lastnosti
Analiza velikosti delcev
Statično in dinamično sipanje svetlobe (laserska difrakcija)
Statična in dinamična analiza slike
Analiza površine
Spektroskopska elipsometrija
Testiranje raztapljanja farmacevtskih izdelkov
Aparature
Avtomatski vzorčevalniki
Pribor in potrošni material
Tehtnice, generatorji plinov, določanje proteinov
Tehtnice
Kratek opis tehtnic
Semi-mikro tehtnice
Analitične tehtnice
Precizne tehtnice
Industrijske tehtnice
Določanje proteinov
Laboratorijski generatorji plinov
Okoljska analitika
Kontrola zraka in plinov
Industrijska in procesna analitika
LIBS
Merilniki debeline kovinskih plasti
XRF
Merilniki debeline kovinskih plasti
Namizni XRF instrumenti
Ročni XRF merilniki
Vakuum in meritve netesnosti
Primarne / Črpalke za srednji vakuum
Rotacijske črpalke
RPS Rootovi črpalni sistemi
Suhe spiralne črpalke
Programska oprema
Vakuumske črpalke za masne spektrometre
Mikroskopija
Mikro- in nano-Raman mikroskopija
Tipalni mikroskopi
X-žarkovna fluorescenčna mikroskopija
Referenčni materiali, kalibracijski standardi in validacijske storitve
Partnerji
Servisne storitve
Svetovanje in prodaja
Podjetje
Aktualno
Prodajni program
Kemijska in fizikalna analitika
Merjenje fizikalnih lastnosti
Testiranje raztapljanja farmacevtskih izdelkov
Tehtnice, generatorji plinov, določanje proteinov
Okoljska analitika
Industrijska in procesna analitika
Vakuum in meritve netesnosti
Sinteza
Mikroskopija
Referenčni materiali, kalibracijski standardi in validacijske storitve
Spletna stran merel.si uporablja piškotke googlove analitike. Strinjam se z uporabo zgoraj navedenih piškotkov.
Ok
